logo



Metrología

IMAGENES-DIDETEP-METROLOGÍA_1

Nombre de la Línea de Investigación

Metrología Fundamental y Aplicada

Descripción

Desarrollar procesos de medición para aplicaciones industriales que garanticen un estado de cumplimiento de los requisitos para su uso previsto.

Sub-líneas de Investigación

  • Supervisión de la producción y optimización a través de la metrología
  • Diseño y desarrollo de sistemas de medición
  • Ingeniería en Metrología en aplicaciones ambientales
  • Nanometrología
  • Materiales avanzados
  • Síntesis y caracterización de materiales
  • Materiales y compuestos nanoestructurados
  • Fotocatálisis, nanocompósitos
  • Materiales magnéticos
  • Energías

 

Nombre de los Grupos de Investigación pertenecientes a la Línea de Investigación

Innovación en Sistemas de Medida

Profesores participantes

Dra. Flora E. Mercader Trejo – Perfil ResearchGate – fmercader@upsrj.edu.mx / 196 13 00 ext 134

Dr. Aarón Rodríguez López – Perfil ResearchGate – arodriguez@upsrj.edu.mx /196 13 00 ext 132

M en C. María Guadalupe López Granada – Perfil ResearchGate – glopez@upsrj.edu.mx / 196 13 00 ext 132

M en C María Eugenia Edith Zapata Campos – ezapata@upsrj.edu.mx / 196 13 00 ext 133

M en C Julio César Díaz Jiménez – Perfil ResearchGate – jcdiaz@upsrj.edu.mx / 196 13 00 ext 133